一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统

摘要

本申请公开了一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统，以使测试结果能够更加真实地反映被测器件的功率循环能力。该系统包括：测试电路和控制器；所述测试电路的主回路上串联有直流电源、第一开关单元、感性器件和被测器件，所述测试电路还包括所述感性器件的续流回路；所述控制器，用于控制所述第一开关单元循环通断，并且在所述第一开关单元开通期间控制被测器件循环通断，在所述第一开关单元关断期间通过冷却系统对被测器件进行冷却，以使被测器件的结温波动符合规定。