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纳米颗粒的粒径细化方法及用于纳米颗粒粒径细化的系统

摘要

本发明实施例提供了一种纳米颗粒的粒径细化方法及用于纳米颗粒粒径细化的系统,涉及纳米材料领域,可细化纳米颗粒的粒径,提高原材料的利用率。该粒径细化方法包括;在溶液中加入第二纳米颗粒;其中,所述溶液包括第一纳米颗粒和分散剂;所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;对加入有所述第二纳米颗粒的所述溶液进行超声振荡处理,使所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒发生碰撞,以细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;从所述溶液中分离出细化后的第一纳米颗粒。用于纳米颗粒的粒径细化。

著录项

  • 公开/公告号CN105621354B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京东方科技集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201610045875.2

  • 发明设计人 张渊明;李延钊;

    申请日2016-01-22

  • 分类号

  • 代理机构北京中博世达专利商标代理有限公司;

  • 代理人申健

  • 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

  • 入库时间 2022-08-23 10:23:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-18

    授权

    授权

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B3/00 申请日:20160122

    实质审查的生效

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B 3/00 申请日:20160122

    实质审查的生效

  • 2016-06-01

    公开

    公开

  • 2016-06-01

    公开

    公开

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