机译:用于AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的二硅化钛/铜肖特基栅极的评估
Yonsei Univ, Sch Integrated Technol, Incheon 21983, South Korea|Yonsei Inst Convergence Technol, Incheon 21983, South Korea;
Yonsei Univ, Sch Integrated Technol, Incheon 21983, South Korea|Yonsei Inst Convergence Technol, Incheon 21983, South Korea;
Chungnam Natl Univ, Dept Elect Engn, Daejeon, South Korea;
Chungnam Natl Univ, Dept Elect Engn, Daejeon, South Korea;
Hongik Univ, Sch Elect & Elect Engn, Seoul 04066, South Korea;
Yonsei Univ, Sch Integrated Technol, Incheon 21983, South Korea|Yonsei Inst Convergence Technol, Incheon 21983, South Korea;
titanium disilicide/Cu; Schottky contact; AlGaN/GaN HEMTs; gate leakage current;
机译:X射线光电子能谱研究通过在AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管上的AlGaN和肖特基栅极之间插入薄Al层来改善器件性能的起源
机译:在AlGaN和肖特基栅极之间插入薄Al层对AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管特性的影响
机译:用肖特基栅极结构研究AlGaN / GaN高电子迁移晶体管中表面疏水阀诱导的电流塌陷现象
机译:铜门AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的热稳定性研究
机译:热,应变和中子辐照对AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管和GaN肖特基二极管中缺陷形成的影响
机译:具有铜填充结构的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的热分析和工作特性:仿真研究
机译:脱位对AlGaN / GaN肖特基二极管的影响以及高电子迁移率晶体管的栅极故障