Memory tests; SRAMs; bit line coupling; defects; parasitic capacitance;
机译:嵌入式SRAM中的动态故障分析:对存储器测试的影响
机译:HAFTA:高度可用的容错架构,可保护基于SRAM的可重配置设备免遭多次位翻转
机译:位线感测策略,用于测试CMOS SRAM中的数据保留故障
机译:在SRAM器件中存在位线耦合的情况下检测存储器故障
机译:故障模型和随机存取存储器中耦合故障的测试。
机译:基于SRAM物理上不可克隆的功能的移动设备上的受信任相机
机译:位线耦合下的SRAM故障行为评估