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International Test Conference

召开年：2019
召开地：Washington(US)
出版时间：-

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1.VAST: Virtualization-Assisted Concurrent Autonomous Self-Test

机译：巨大：虚拟化辅助并发自治自主测试
- 作者：Inoue Hiroaki;Li Yanjing;Mitra Subhasish
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
2.External Loopback Testing Experiences with High Speed Serial Interfaces

机译：外部环回测试高速串行接口的经验
- 作者：Meixner Anne;Kakizawa Akira;Provost Benoit;Bedwani Serge
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
3.Beyond 10 Gbps? Challenges of Characterizing Future I/O Interfaces with Automated Test Equipment

机译：超过10 Gbps？用自动化测试设备表征未来I / O接口的挑战
- 作者：Moreira Jose;Barnes Heidi;Kaga Hiroshi;Comai Michael;Roth Bernhard;Culver Morgan
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
4.Detection of Internal Stuck-open Faults in Scan Chains

机译：扫描链中的内部卡住故障检测
- 作者：Yang F.;Chakravarty S.;Devta-Prasanna N.;Reddy S.M.;Pomeranz I.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
5.CONCAT: CONflict Driven Learning in ATPG for Industrial designs

机译：CONCAT：冲突驱动ATPG的工业设计学习
- 作者：Bommu Surendra;Chandrasekar Kameshwar;Kundu Rahul;Sengupta Sanjay
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
6.A Tutorial on STDF Fail Datalog Standard

机译：STDF失败Datalog标准的教程
- 作者：Khoche Ajay;Burlison Phil;Rowe John;Plowman Glenn
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
7.A Study of Outlier Analysis Techniques for Delay Testing

机译：延迟测试的异常分析技术研究
- 作者：Wu Sean H.;Drmanac Dragoljub;Wang Li-C.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
8.A Tutorial on STDF Fail Datalog Standard

机译：STDF失败Datalog标准的教程
- 作者：Ajay Khoche;Phil Burlison;John Rowe;Glenn Plowman
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
9.A Field Analysis of System-level Effects of Soft Errors Occurring in Microprocessors used in Information Systems

机译：信息系统中使用的微处理器中发生的软误差的系统级效应的现场分析
- 作者：Shazli Syed Z.;Abdul-Aziz Mohammed;Tahoori Mehdi B.;Kaeli David R.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
10.Optimized Circuit Failure Prediction for Aging: Practicality and Promise

机译：老化优化电路故障预测：实用性和承诺
- 作者：Agarwal Mridul;Balakrishnan Varsha;Bhuyan Anshuman;Kim Kyunglok;Paul Bipul C.;Wang Wenping;Yang Bo;Cao Yu;Mitra Subhasish
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
11.A New Wafer Level Latent Defect Screening Methodology for Highly Reliable DRAM Using a Response Surface Method

机译：一种新的晶片级潜在缺陷筛选方法，用于使用响应表面方法的高度可靠的DRAM
- 作者：Nam Junghyun;Chun Sunghoon;Koo Gibum;Kim Yanggi;Moon Byungsoo;Lim Jonghyoung;Joo Jaehoon;Kang Sangseok;Kim Hoonjung;Shin Kyeongseon;Kang Kisang;Kang Sungho
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
12.On the Correlation between Controller Faults and Instruction-Level Errors in Modern Microprocessors

机译：关于现代微处理器中控制器故障与指令级别错误的相关性
- 作者：Naghmeh Karimi;Michail Maniatakos;Abhijit Jas;Yiorgos Makris
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
13.Leveraging IEEE 1641 for Tester-Independent ATE Software

机译：利用IEEE 1641用于独立于测试员 - 独立于测试者的ATE软件
- 作者：Bethany Van Wagenen;Jon Vollmar;Dan Thornton
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
14.Architecture for Testing Multi-Voltage Domain SOC

机译：用于测试多电压域SoC的架构
- 作者：Souef Laurent;Eychenne Christophe;Alie Emmanuel
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
15.A New Language Approach for IJTAG

机译：一种新的IJTAG语言方法
- 作者：Portolan Michele;Goyal Suresh;Van Treuren Bradford;Chiang Chen-Huan;Chakraborty Tapan;Cook Thomas B.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
16.A High-Speed Structural Method for Testing Address Decoder Faults in Flash Memories

机译：一种高速结构方法，用于测试闪存中的地址解码器故障
- 作者：Ginez O.;Portal J-M.;Aziza H.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
17.Justifying DFT with a Hierarchical Top-Down Cost-Benefit Model

机译：用分层自上而下的成本效益模型证明DFT
- 作者：Davidson Scott
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
18.A Field Analysis of System-level Effects of Soft Errors Occurring in Microprocessors used in Information Systems

机译：信息系统中使用的微处理器中发生的软误差的系统级效应的现场分析
- 作者：Syed Z. Shazli;Mohammed Abdul-Aziz;Mehdi B. Tahoori;David R. Kaeli
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
19.Test Access Mechanism for Multiple Identical Cores

机译：多个相同核的测试访问机制
- 作者：Giles Grady;Wang Jing;Sehgal Anuja;Balakrishnan Kedarnath J.;Wingfield James
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
20.Defect Oriented Testing of the Strap Problem Under Process Variations in DRAMs

机译：在DRAM中的过程变化下的带状问题的缺陷导向测试
- 作者：Al-Ars Zaid;Hamdioui Said;van de Goor Ad J.;Mueller Georg
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
21.A Power-Aware Test Methodology for Multi-Supply Multi-Voltage Designs

机译：用于多电源多电压设计的动力感知测试方法
- 作者：Chickermane Vivek;Gallagher Patrick;Sage James;Yuan Paul;Chakravadhanula Krishna
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
22.Diagnosis of design-silicon timing mismatch with feature encoding and importance ranking - the methodology explained

机译：具有特征编码和重要性排名的设计 - 硅定时失配的诊断 - 方法论解释
- 作者：Bastani Pouria;Callegari Nick;Wang Li-C.;Abadir Magdy S.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
23.Optimized Circuit Failure Prediction for Aging: Practicality and Promise

机译：老化优化电路故障预测：实用性和承诺
- 作者：Mridul Agarwal;Varsha Balakrishnan;Anshuman Bhuyan;Kyunglok Kim;Bipul C. Paul;Wenping Wang;Bo Yang;Yu Cao;Subhasish Mitra
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
24.Using Implications for Online Error Detection

机译：利用在线错误检测的影响
- 作者：Nepal K.;Alves N.;Dworak J.;Bahar R. I.
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
25.Testing Techniques for Hardware Security

机译：硬件安全测试技术
- 作者：Majzoobi Mehrdad;Koushanfar Farinaz;Potkonjak Miodrag
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
26.DFT Architecture for Automotive Microprocessors using On-Chip Scan Compression supporting Dual Vendor ATPG

机译：用于汽车微处理器的DFT架构，使用片上扫描压缩支持双供应商ATPG
- 作者：Ahrens Heiko;Schlagenhaft Rolf;Lang Helmut;Srinivasan V.;Bruzzano Enrico
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2008年
27.Failure modes for stiction in surface-micromachined MEMS

机译：表面微机械MEMS中静态的故障模式
- 作者：Kolpekwar A.;Blanton R.D.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
28.A performance analysis system for MEMS using automated imaging methods

机译：使用自动成像方法的MEMS性能分析系统
- 作者：LaVigne G.F.;Miller S.L.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
29.A fault injection environment for microprocessor-based boards

机译：基于微处理器的板的故障注入环境
- 作者：Benso A.;Prinetto P.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
30.Leveraging new standards in ATE software

机译：利用ATE软件的新标准
- 作者：Oonk J.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
31.How we test Siemens Embedded DRAM Cores

机译：我们如何测试西门子嵌入式DRAM核心
- 作者：McConnell R.;Moller U.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
32.FakeFault: a silicon debug software tool for microprocessor embedded memory arrays

机译：FakeFault：用于微处理器嵌入式内存阵列的硅调试软件工具
- 作者：Young-Jun Kwon;Mathew B.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
33.Improved sensitivity for parallel test of substrate interconnections

机译：提高了基板互连的并联试验的灵敏度
- 作者：Keezer D.C.;Newman K.E.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
34.Cost of test reduction

机译：减少试验成本
- 作者：Deshayes H.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
35.Digital bus faults measuring techniques

机译：数字总线故障测量技术
- 作者：Schrift R.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
36.Testing a multichip package for a consumer communications application

机译：测试消费者通信应用程序的多芯片封装
- 作者：Biewenga A.;Muris M.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1998年
37.Breaking the complexity spiral in board test

机译：在船上测试中打破复杂性螺旋
- 作者：Scheiber S.F.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
38.The integration of boundary-scan test methods to a mixed-signal environment

机译：边界扫描测试方法对混合信号环境的集成
- 作者：Ley A.W.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
39.Design for test and time to market-friends or foes

机译：设计测试和时间到市场和敌人
- 作者：Turino J.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
40.Design for (physical) debug for silicon microsurgery and probing of flip-chip packaged integrated circuits

机译：用于硅显微外科的（物理）调试和倒装芯片封装集成电路的探测
- 作者：Livengood R.H.;Medeiros D.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
41.At-speed structural test

机译：速度结构试验
- 作者：West B.G.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
42.Embedded X86 testing methodology

机译：嵌入式X86测试方法
- 作者：Basto L.;Khan A.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
43.Estimating the integral non-linearity of A/D-converters via the frequency domain

机译：通过频域估计A / D转换器的积分非线性
- 作者：Csizmadia N.;Janssen A.J.E.M.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
44.I/sub DDQ/ testing in deep submicron integrated circuits

机译：深度亚微米集成电路中的I / SUB DDQ /测试
- 作者：Miller A.C.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
45.The value of tester accuracy

机译：测试仪精度的值
- 作者：Wajih Dalal;Song Miao;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
46.Test process optimization: closing the gap in the defect spectrum

机译：测试过程优化：关闭缺陷频谱中的间隙
- 作者：Barrett N.;Martin S.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
47.Testing reusable IP-a case study

机译：测试可重复使用的IP-A案例研究
- 作者：Harrod P.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 1999年
48.Defect screening challenges in the Gigahertz/Nanometer age: keeping up with the tails of defect behaviors

机译：缺陷筛选千兆赫兹/纳米年龄的挑战：跟上缺陷行为的尾部
- 作者：Rodgers M.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2000年
49.Concurrent error detection in block ciphers

机译：块密码中的并发错误检测
- 作者：Fernandez-Gomez S.;Rodriguez-Andina J.J.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2000年
50.Technique for testing a very high speed mixed signal read channel design

机译：测试非常高速混合信号读通道设计的技术
- 作者：Matthes D.;Ford J.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2000年
51.It isn't just testing anymore (REDUX)

机译：它不仅仅是测试了（Redux）
- 作者：Scheiber S.F.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2000年
52.Using on-chip test pattern compression for full scan SoC designs

机译：使用片上测试模式压缩进行全扫描SOC设计
- 作者：Lang H.;Pfeiffer J.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2000年
53.Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260)

机译：诉讼国际考试大会2001（猫。No.01CH37260）
- 作者：Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2001年
54.Author index

机译：作者索引
- 作者：Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2001年
55.Rapid-response temperature control provides new defect screening opportunities

机译：快速响应温度控制提供了新的缺陷筛选机会
- 作者：Malinoski M.;West B.G.;Institute of Electric and Electronic Engineer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2001年
56.Rapid-response temperature control provides new defect screening opportunities

机译：快速响应温度控制提供了新的缺陷筛选机会
- 作者：Mark Malinoski;Burnell G. West
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2001年
57.Multi giga hertz digital test challenges and techniques

机译：多GIGA赫兹数字测试挑战和技术
- 作者：Manoj Sachdev
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
58.Mixed-signal BIST: fact or fiction

机译：混合信号BIST：事实或虚构
- 作者：Karim Arabi
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
59.Mixed-signal BIST: fact or fiction

机译：混合信号BIST：事实或虚构
- 作者：Gordon W. Roberts
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
60.Selective optimization of test for embedded flash memory

机译：选择性优化嵌入式闪存的测试
- 作者：Roger Barth
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
61.Testing the tester: specification and validation approaches

机译：测试测试仪：规范和验证方法
- 作者：John C. Johnson
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
62.Scan and BIST can almost achieve test quality levels

机译：扫描和BIST几乎可以实现测试质量水平
- 作者：Carol Pyron
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
63.'Board test and ITC: what does the future hold? '

机译：“董事会测试和ITC：未来持有什么？”
- 作者：R. G. Ben Bennetts
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
64.Test coverage models for system test?

机译：测试系统测试的覆盖型号？
- 作者：David Williams
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
65.IC mixed-signal BIST: separating facts from fiction

机译：IC混合信号BIST：从小说中分离事实
- 作者：Stephen K. Sunter
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
66.Is scan (alone) sufficient to test today's microprocessors? not quite, but we can't get the job done without it

机译：扫描（单独）足以测试今天的微处理器吗？不完全，但我们无法在没有它的情况下完成工作
- 作者：Grady Giles
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
67.Inevitable use of TAP domains in SOCs

机译：不可避免地使用SOC中的TAP域
- 作者：Lee Whetsel
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
68.Challenges and solution for multi-gigahertz testing

机译：多Gigahertz测试的挑战和解决方案
- 作者：D. C. Keezer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
69.Wireless SOC testing: can RF testing costs be reduced?

机译：无线SOC测试：可以减少RF测试成本吗？
- 作者：Alan Kafton
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
70.An open architecture for semiconductor test: enablers and challenges

机译：半导体测试的开放式架构：推动者和挑战
- 作者：Mark Jagiela
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
71.Test and repair of embedded flash memories

机译：嵌入式闪存的测试和修复
- 作者：Jean Michel Daga
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
72.The impact of outsourcing on test

机译：外包对测试的影响
- 作者：Fidel Muradali
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
73.Can IC test learn from how a tester is tested

机译：Can IC测试可以从测试员如何测试
- 作者：Rochit Rajsuman
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
74.Board test is not mature

机译：董事会测试并不成熟
- 作者：Kenneth P. Parker
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
75.Good scan=good quality level? it depends...

机译：良好的扫描=好的质量水平？这取决于...
- 作者：Anjali Kinra Vij
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
76.Multi-GHz interface devices should be tested using external test resources

机译：应使用外部测试资源进行测试多GHz接口设备
- 作者：Takahiro J. Yamaguchi
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
77.Testing the tester

机译：测试测试人员
- 作者：Rochit Rajsuman
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
78.The consequences of an open ATE architecture

机译：开放式架构的后果
- 作者：Sergio M. Perez
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
79.Open ATE architecture: key challenges

机译：开放ate建筑：关键挑战
- 作者：Burnell G. West
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
80.GHz testing and its fuzzy targets

机译：GHz测试及其模糊目标
- 作者：C. Hawkins;J. Segura
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
81.Position statement: taps all over my chips

机译：Position陈述：全部删除芯片
- 作者：Steven F. Oakland
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
82.Test and repair of non-volatile commodity and embedded memories

机译：对非易失性商品和嵌入式记忆的测试和修复
- 作者：Shigeo Tsuchida
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
83.The yield of test outsourcing

机译：试验外包的产量
- 作者：Davide Appello
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
84.Board test: wanted dead or alive

机译：董事会测试：想要死亡或活着
- 作者：Gordon D. Robinson
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
85.Test and repair of non-volatile commodity and embedded memories (NAND flash memory)

机译：非易失性商品和嵌入式存储器的测试和修复（NAND闪存）
- 作者：Riichiro Shirota
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
86.Is ITC bored with board test?

机译：ITC是否与董事会测试无聊？
- 作者：Kenneth M. Butler
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
87.What can IC test teach system test?

机译：IC测试如何教学系统测试？
- 作者：Scott Davidson
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
88.A/MS BISTs: the FACTS, just the facts

机译：A / MS BISTS：事实，只是事实
- 作者：Arnold Frisch
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
89.Pervasive multi giga bit links - an ATE challenge?

机译：普遍的多giga位链接 - 吃挑战？
- 作者：Ulrich Schoettmer
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
90.Trouble with scan

机译：扫描问题
- 作者：David M. Wu
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
91.On-die DFT based solutions are sufficient for testing multi-GHz interfaces in manufacturing (and are also key to enabling lower cost ATE platforms)

机译：基于DFT基于DFT的解决方案足以用于测试制造中的多GHz接口（并且还可以实现更低的成本ATE平台的关键）
- 作者：Mike Tripp
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
92.Mixed signal BIST: fact or fiction panel position paper

机译：混合信号BIST：事实或小说面板位置纸
- 作者：Lee Y. Song
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
93.Outsourcing test without standards?

机译：没有标准的外包测试？
- 作者：Peter Muhmenthaler
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
94.Testing the tester: what broke? where?when?why?

机译：测试测试仪：破坏了？哪里？什么时候？为什么？
- 作者：Alfred L. Crouch
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
95.Is board test worth talking about?

机译：董事会测试值得谈论吗？
- 作者：Bill Eklow
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
96.Test time impact of redundancy repair in embedded flash memory

机译：在嵌入式闪存中的冗余修复测试时间影响
- 作者：Paul Okino
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
97.Panel: 'board test and ITC: what does the future hold?'

机译：小组：“董事会测试和ITC：未来的持有是什么？”
- 作者：Monica Lobetti-Bodoni
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
98.Scan-based testing: the only practical solution for testing ASIC/consumer products

机译：基于扫描的测试：测试ASIC /消费者产品的唯一实用解决方案
- 作者：Phil Nigh
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
99.Testing wireless local area network transceiver ICs at 5GHz

机译：在5GHz测试无线局域网收发器IC
- 作者：Kevin M. MacKay
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2002年
100.Diagnosis in Modem Design- Just the Tip of the Iceberg

机译：调制解调器设计的诊断 - 只是冰山一角
- 作者：Fidel Muradali
- 会议名称：《International Test Conference》 | 2003年