公开/公告号CN100595928C
专利类型发明授权
公开/公告日2010-03-24
原文格式PDF
申请/专利权人 上海新傲科技股份有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;
申请/专利号CN200710173699.1
申请日2007-12-28
分类号H01L27/12(20060101);H01L21/00(20060101);H01L21/20(20060101);H01L21/265(20060101);H01L21/762(20060101);H01L21/84(20060101);H01L21/50(20060101);H01L21/60(20060101);
代理机构上海翼胜专利商标事务所(普通合伙);
代理人翟羽
地址 201821 上海市嘉定区普惠路200号
入库时间 2022-08-23 09:04:13
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-03-24
授权
授权
2008-12-31
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-07-30
公开
公开
机译: 封装组件,包括半导体衬底,其中,半导体衬底的表面的第一部分相对于半导体衬底的表面的第二部分凹陷,以在半导体衬底中形成凹陷区域
机译: 封装组件,包括半导体衬底,其中,半导体衬底的表面的第一部分相对于半导体衬底的表面的第二部分凹陷,以在半导体衬底中形成凹陷区域
机译: 使用电子束扫描电子显微镜以非破坏性的方式在先进半导体器件中的高分辨率三维分析