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半导体衬底、制备技术及在先进三维电子封装中的应用

摘要

本发明提供了一种半导体衬底,包括器件层、位于器件层下方的绝缘层,还包括位于绝缘层下方的支撑衬底和位于支撑衬底中的连续绝缘埋层。本发明还提供了半导体衬底的制备方法以及利用此半导体衬底的先进三维电子封装方法。本发明的优点在于:可以降低被减薄的衬底的厚度,而且可以提高表面的平整度以及剩余硅层的均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN100595928C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200710173699.1

  • 发明设计人 王曦;肖德元;魏星;

    申请日2007-12-28

  • 分类号H01L27/12(20060101);H01L21/00(20060101);H01L21/20(20060101);H01L21/265(20060101);H01L21/762(20060101);H01L21/84(20060101);H01L21/50(20060101);H01L21/60(20060101);

  • 代理机构上海翼胜专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人翟羽

  • 地址 201821 上海市嘉定区普惠路200号

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-03-24

    授权

    授权

  • 2008-12-31

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-07-30

    公开

    公开

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