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高电子迁移率晶体管的制造方法及高电子迁移率晶体管

摘要

一种高电子迁移率晶体管的制造方法及高电子迁移率晶体管。所述制造方法包括:对清洗完成的晶圆,沉积Si3N4介质层;定义隔离区,在隔离区内填充SiO2;制备第一级栅极窗口;在晶圆表面沉积栅介质层后,再次在第一级栅极窗口内制备第二级栅极窗口;沉积栅极金属;制备源极窗口和漏极窗口;沉积欧姆接触金属,并定义出源极金属电极区域、漏极金属电极区域、和栅极金属电极区域,由此形成具有2层金属场板的帽形栅结构;制备表面保护层,并对该保护层进行开孔,以打开源极金属电极区域、漏极金属电极区域、和栅极金属电极区域。

著录项

  • 公开/公告号CN107623030B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学深圳研究生院;

    申请/专利号CN201710650735.2

  • 发明设计人 孙辉;刘美华;林信南;陈东敏;

    申请日2017-08-02

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/423(20060101);H01L29/06(20060101);H01L21/28(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构44281 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭燕

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽深圳大学城北大园区

  • 入库时间 2022-08-23 11:17:06

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