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ICP刻蚀GaN基多量子阱制备纳米阵列图形的方法

摘要

ICP刻蚀GaN基多量子阱制备纳米阵列图形的方法,包括以下步骤:取一衬底,衬底的材料为硅、蓝宝石或氮化镓;在衬底依次外延生长GaN缓冲层,n型GaN层、InGaN/GaN量子阱层和P型GaN,形成初步的GaN基片;量子阱层整个厚度约50nm-200nm,周期数为2-10;在GaN基片上采用PVD进行蒸镀金属层;对蒸镀生长金属层的基片进行高温退火;利用ICP刻蚀工艺,刻蚀GaN基片直至n型GaN层或部分n型GaN层;形成InGaN/GaN纳米柱。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L33/06 授权公告日:20151118 终止日期:20161127 申请日:20121127

    专利权的终止

  • 2015-11-18

    授权

    授权

  • 2013-06-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/06 申请日:20121127

    实质审查的生效

  • 2013-05-08

    公开

    公开

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