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同时鉴定碳碳双键异构体的双键位置和顺反异构的方法

摘要

本发明提供一种同时鉴定碳碳双键异构体的双键位置和顺反异构的方法,包括如下步骤:1)将含不饱和双键和顺反异构结构的底物、含羰基的反应试剂和光催化剂溶于溶剂中搅拌均匀得待检测溶液;2)步骤1)得到的待检测溶液在可见光的激发下进行光照反应,得到反应产物;3)将步骤2)所得反应产物注入质谱中,经色谱分析和离子源离子化后,进一步经CID碎裂得到特征碎片离子;4)对步骤3)得到的特征碎片离子进行分析,反向推导出不饱和双键的位置;5)对底物和反应产物的色谱行为进行分析和对比,推导出不饱和双键的顺反异构结构。其可以同时鉴定含不饱和双键和顺反异构结构的脂质化合物的碳碳双键异构体的双键位置和顺反异构。

著录项

  • 公开/公告号CN114019043A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN202111268326.9

  • 发明设计人 陈素明;冯桂芳;

    申请日2021-10-29

  • 分类号G01N30/02(20060101);G01N30/06(20060101);G01N30/72(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人常海涛

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    公开

    发明专利申请公布

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