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公开/公告号CN112924392A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-08
原文格式PDF
申请/专利权人 国家纳米科学中心;
申请/专利号CN202110164408.2
发明设计人 刘新风;杜文娜;吴宪欣;张帅;
申请日2021-02-05
分类号G01N21/17(20060101);G01N21/25(20060101);G01N21/01(20060101);
代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;
代理人巩克栋
地址 100190 北京市海淀区中关村北一条11号
入库时间 2023-06-19 11:19:16
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-07-14
授权
发明专利权授予
机译: 纳米材料中电子迁移率的电测量装置,纳米材料中空穴的电率测量装置,纳米材料中电子迁移率的电沉积率测量以及纳米材料中的电沉积率测量方法
机译: 用于激光加工工艺的光学距离测量方法,用于激光加工装置的光学距离测量系统和包含该的激光加工装置的测量系统
机译:实时同时测量系统,实时同时测量装置,实时同时测量方法以及存储程序的存储介质的专利授权
机译:光学测量方法与飞行参数测量系统的集成
机译:基于陆地车辆的移动式精确三角水准测量系统:另一种精确水准测量方法
机译:基于相位干扰考虑透射波和测量系统的影响,使用距离测量方法的超声成像装置的传播时间估计
机译:高速光学表面坐标测量系统及其在动态测量中的应用。
机译:用于研究瞳孔大小变异性的双眼瞳孔测量系统和测量方法
机译:一种与线性阵列探测装置集成的电气测量系统和用于气体传感器的光学登记系统
机译:全球激光测距仪轮廓测量仪(GLRp):一种新型光学表面波测量系统