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适应存储器装置预期寿命的垃圾数据收集

摘要

本申请涉及适应存储器装置预期寿命的垃圾数据收集。论述了用于使存储器装置中的垃圾数据收集GC操作适应经估计装置使用年限的系统和方法。示例性存储器装置包含存储器控制器,用于:跟踪实际装置使用年限;使用物理写入计数和所述存储器装置的预期使用寿命内的总写入次数确定装置磨损度量;估计磨损所指示的装置使用年限;以及根据所述磨损所指示的装置使用年限与所述实际装置使用年限的相对关系来调整将通过GC操作释放的存储器空间量。所述存储器控制器还可根据所述磨损所指示的装置使用年限与所述实际装置使用年限的相对关系,在单层级单元SLC高速缓存和多层级单元MLC存储装置之间动态地重新分配所述存储器单元的一部分。

著录项

  • 公开/公告号CN112115070A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN202010559303.2

  • 发明设计人 梁卿;何德平;D·A·帕尔默;

    申请日2020-06-18

  • 分类号G06F12/02(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王龙

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2023-06-19 09:16:49

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