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一种通过霍尔效应分析陶瓷内部缺陷的方法

摘要

本发明属于无铅压电陶瓷材料领域,具体涉及一种通过霍尔效应分析陶瓷内部缺陷的方法。本发明的铌酸钾钠基陶瓷材料采用工业原料获得,陶瓷样品均在99.999%的高纯氮气和空气下测试。首先根据霍尔效应的测试要求对陶瓷样品进行电极涂覆,然后通过霍尔效应测试成功地对铌酸钾钠基陶瓷材料的内部缺陷类型进行判断和浓度的量化。本发明实现了对陶瓷内部缺陷类型的直观判定和量化,为制备具有低浓度缺陷、优异的压电性能、周期短、成本低的铌酸钾钠基陶瓷材料提供了一种有效的判定方法。

著录项

  • 公开/公告号CN111807839A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南大学;

    申请/专利号CN202010772336.5

  • 发明设计人 郇宇;王振行;魏涛;

    申请日2020-08-04

  • 分类号C04B35/495(20060101);C04B35/622(20060101);G01N27/00(20060101);

  • 代理机构37240 济南誉丰专利代理事务所(普通合伙企业);

  • 代理人赵凤

  • 地址 250022 山东省济南市市中区南辛庄西路336号

  • 入库时间 2023-06-19 08:39:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-30

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C04B35/495 专利申请号:2020107723365 申请公布日:20201023

    发明专利申请公布后的视为撤回

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