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应用于锗硅三极管的轻掺杂二极管结构

摘要

本发明公开了一种应用于锗硅三极管的轻掺杂二极管结构,由下至上依次包括硅基片、n区、i区和p区,该轻掺杂二极管的p区与n区为非全包含结构,p区与n区在水平面上的投影无重叠部分,p区与n区在水平面方向上投影的间距X>0。通过调整n区与p区在水平面方向上投影的间距X可以实现对轻掺杂二极管的特性的独立调节而且与现有的锗硅异质结三极管的制造工艺兼容。

著录项

  • 公开/公告号CN102064202B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-01-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN200910201790.9

  • 发明设计人 陈雄斌;周正良;

    申请日2009-11-12

  • 分类号H01L29/868(20060101);H01L29/06(20060101);H01L21/329(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人王函

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-01-08

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 29/868 变更前: 变更后: 登记生效日:20131216 申请日:20091112

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-01-09

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/868 申请日:20091112

    实质审查的生效

  • 2011-05-18

    公开

    公开

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