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裸晶圆灌孔封装技术

摘要

裸晶圆灌孔封装技术,它涉及一种晶圆封装技术。它的工艺流程为:(1)依据接点设计的需要,裸晶圆上的接点默认位置先以TSV和RDL程序做出灌孔,而灌孔中镀上导电金属,进行CMP整平裸晶圆表面;(2)裸晶圆上进行晶圆成型的制程,并将对外的接点回路与TSV做出灌孔连接;(3)晶圆成型的制程后将对外接点亦生成于金属层上,在金属层表面镀上一层钝化层;(4)直接殖锡球或直接做MetalBumping,再将晶圆切割成晶粒。它可以完全减少基板、打线材和灌胶的成本,可以进行内存高密度封装,完全没有上限,完全突破封装空间的极限。将整个MCP或者是SiP推进到晶圆级技术,封装厂和晶圆厂将无明显的界线。

著录项

  • 公开/公告号CN102610532A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 涂嘉晋;李应煌;

    申请/专利号CN201110022798.6

  • 发明设计人 涂嘉晋;李应煌;

    申请日2011-01-20

  • 分类号H01L21/50;H01L21/60;

  • 代理机构北京众合诚成知识产权代理有限公司;

  • 代理人龚燮英

  • 地址 中国台湾臺北县板桥市东丘里7邻中山路二段90巷1号五楼

  • 入库时间 2023-12-18 06:21:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-09-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/50 申请公布日:20120725 申请日:20110120

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-07-25

    公开

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