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机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和Hall Van der PauW方法,用于测量散装半导体中的载波电导率和移动性
NIST Radiat Phys Div Gaithersburg MD 20899 USA;
NIST Engn Phys Div Gaithersburg MD 20899 USA;
NIST Radiat Phys Div Gaithersburg MD 20899 USA;
机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和Hall Van der PauW方法,用于测量散装半导体中的载波电导率和移动性
机译:通过门控范德堡方法在有机半导体薄膜中的载流子迁移率
机译:通过van der Pauw几何结构直接测量毫米级单晶石墨烯中的电导率和迁移率
机译:用范德堡法测量高阻半导体
机译:用时间分辨太赫兹光谱法测量了块状和纳米晶体半导体的光电导性。
机译:时间分辨太赫兹光谱法和Hall Van der Pauw方法的直接比较用于测量体半导体中的载流子电导率和迁移率
机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和展示船舶导电性和散装半导体流动性的方法
机译:使用van der pauw方法测量高电阻率半导体。