硫酸銅浴からの銅電析におけるSPS吸着に及ぼすPEG平均分子量の影響

摘要

PEGとCl~-を含む系における，SPSの吸着に及ぼすPEGの平均分子量の影響について解析を行った。 分極曲線より求めたターフェル式のb係数からvを求めたところ，PEGCl~-，SPSの三成分を含む系におけるvの値は約3であったことから，この系における電析反応は3つの素過程があると考察された。 また，PEGの平均分子量が大きい系であるほど，PEGの被覆率が高く，SPSの吸着量も大きくなると考察された。 このことは，Cole-Coleプロットの解析からも確認された。 また，PEG, Cl~-，SPSの三成分を含む系から得られた銅皮膜の結晶粒子径が最も小さいことが認められたことから，SPSの吸着は銅の結晶成長を抑制する効果があると結論された。