机译:通过电检测和微波调制磁传输测量探测两子带填充的AlGaN / GaN异质结构
机译:使用原子探针层析成像,二次离子质谱和垂直电流-电压测量表征在Si(111)上生长的AlN / AlGaN / GaN:C异质结构
机译:通过横向和纵向电应力测量相结合的方法识别AlGaN / GaN异质结构中的陷阱的空间
机译:光辅助扫描探针显微镜表征AlGaN / GaN / Si异质结构的电性能
机译:InAlN / GaN和AlGaN / GaN异质结构场效应晶体管中电应力的低频噪声测量
机译:高性能紫外线光电探测器和LED和光电探测器的单片集成在SI上生长的P-GAN / AlGaN / GaN异质结构上的LED和PhotoTopetector
机译:AlGaN / GaN异质结构上的近表面处理:纳米级电学和结构表征
机译:栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由低频噪声和脉冲电测量证明,栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由脉冲I-V和低频噪声测量证明
机译:温度和电子辐射对alGaN / GaN异质结构场效应晶体管电性能的影响