lithography metrology secondary electron SEM transmitted electron X ray;
机译:使用40kV形电子束光刻技术的用于深X射线光刻的高精度掩模制造
机译:通过扫描电子显微镜检查和极浅Si刻蚀有效测量45nm半间距紫外纳米压印光刻图形的线宽
机译:透射电子显微镜:一种用于光刻的线宽测量技术
机译:X射线掩模计量学:X射线光刻线宽标准的发展
机译:X射线和电子束光刻中的电子物质相互作用。
机译:使用电子束光刻写入的相位掩模通过近场全息术制造的软X射线变化线间隔光栅
机译:使用电子束光刻写入相掩模,由近场全息术制造的软X射线变化线间隙
机译:通过具有50nm线宽的X射线掩模的三电平电子束光刻制造,以及通过X射线纳米光刻复制