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Test and repair of non-volatile commodity and embedded memories (NAND flash memory)

机译：非易失性商品和嵌入式存储器的测试和修复（NAND闪存）

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Using ECC technology, multi-level as well as single-level NAND Flash memories perform high endurance reliabilities.

机译：使用ECC技术，多级以及单级NAND闪存记忆执行高耐久性的可靠性。

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来源
《International Test Conference》|2002年||共1页
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作者
Riichiro Shirota;
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正文语种
中图分类 TP274-53;
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