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目录
第一章 绪论
1.1 研究背景
1.2 存储器修复技术的发展现状
1.3 本文内容安排
第二章 嵌入式存储器的测试原理
2.1 嵌入式存储器故障分析
2.2 嵌入式存储器的内建自测试
2.3 本章小结
第三章 嵌入式存储器的修复设计
3.1 嵌入式存储器修复理论
3.2 传统修复方式
3.3 新形式修复方式
3.4 本章小结
第四章 嵌入式存储器修复的测试流程设计
4.1 控制接口与指令
4.2 测试流程模块设计
4.3 测试时间的优化
4.4 整体测试流程解决方案
4.5 本章小结
第五章 整体解决方案在ATE上实现与验证
5.1 被测晶圆简介
5.2 测试平台
5.3 测试平台上测试程序的配置
5.4 修复测试结果及分析
5.5 本章小结
第六章 总结与展望
参考文献
致谢
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