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FakeFault: a silicon debug software tool for microprocessor embedded memory arrays

机译:FakeFault:用于微处理器嵌入式内存阵列的硅调试软件工具

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摘要

This paper presents a simple but elegant approach to effectively automate the time-consuming silicon debug procedure for microprocessor embedded memory arrays that allow no direct test modes, based on sequential ATPG with built-in design-for-debug methodology.
机译:本文提出了一种简单但优雅的方法,可以有效地自动化耗时的微处理器嵌入式内存阵列的耗时硅调试过程,这些内存阵列无需直接测试模式,基于顺序ATPG具有内置设计的调试方法。

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