Electrostatic discharges; Reliability; Layout; Testing; Logic gates; Modulation; Pins;
机译:漏极侧超结结构增强了圆形特高压300V电源nLDMOS的ESD可靠性
机译:漏极侧超结结构循环UHV 300-V电源NLDMOS的ESD可靠性
机译:对电源nLDMOS ESD / LU可靠性的漏极侧布局拓扑的综合评估
机译:超高压圆形nLDMOS的漏极侧超结具有强大的ESD可靠性
机译:高频混合信号集成电路中ESD可靠性的设计。
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件用于28 nm CMOS过程中的ESD保护
机译:通过嵌入式SCR和鲁棒性P-BAND提高UHV 300-V圆形LDMOS组件的ESD能力
机译:基于轴压的圆形组合柱可靠性分析与可靠性设计优化