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Photomask, photomask set, exposure apparatus and exposure method

机译:光掩模,光掩模组,曝光设备和曝光方法

摘要

An exposure apparatus may include a first moving mechanism moving by driving a first drive source a first photomask; a second moving mechanism moving by driving a second drive source a second photomask; an imaging means for imaging a first alignment mark formed on the first photomask and a substrate side mark formed on the substrate and imaging a second alignment mark formed on the first photomask and a third alignment mark formed on the second photomask; and a control unit, wherein the control unit controls the first drive source so that alignment between the first alignment mark and the substrate side mark is performed based on results of imaging these marks, and the control unit controls the second drive source so that alignment between the second alignment mark and the third alignment mark is performed based on results of imaging these marks.
机译:曝光设备可以包括第一移动机构,该第一移动机构通过驱动第一驱动源和第一光掩模而移动;第二移动机构,其通过驱动第二驱动源和第二光掩模而移动;成像装置,其使在第一光掩模上形成的第一对准标记和在基板上形成的基板侧标记成像,并且对在第一光掩模上形成的第二对准标记和在第二光掩模上形成的第三对准标记成像。控制单元,其中,控制单元控制第一驱动源,以基于对这些标记的成像结果来进行第一对准标记和基板侧标记之间的对准,并且控制单元控制第二驱动源,以使得第一对准标记和基板侧标记之间的对准。基于对这些标记进行成像的结果来执行第二对准标记和第三对准标记。

著录项

  • 公开/公告号US9274415B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NIPPON MEKTRON LTD.;

    申请/专利号US201414536978

  • 申请日2014-11-10

  • 分类号G03B27/32;G03B27/42;G03F1/42;G03F7/20;G03F9/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:28:50

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