首页> 外国专利> A mask blank having an actinic radiation-sensitive or radiation-sensitive resin composition, an actinic radiation or radiation-sensitive film, a light-actinic radiation-sensitive or radiation-sensitive film, a pattern forming method, and a manufacturing method of an electronic device

A mask blank having an actinic radiation-sensitive or radiation-sensitive resin composition, an actinic radiation or radiation-sensitive film, a light-actinic radiation-sensitive or radiation-sensitive film, a pattern forming method, and a manufacturing method of an electronic device

机译:具有光化放射线或放射线敏感性树脂组合物的掩模坯料,光化放射线或放射线敏感性膜,光光化放射线或放射线敏感性膜,图案形成方法以及电子设备的制造方法设备

摘要

According to the present invention, there is provided a photosensitive resin composition comprising a compound (A) whose dissolution rate with respect to an alkali developing solution is lowered by the action of an acid, a hydrophobic resin (B), and a resin (C) A film using the composition, a mask blank, a pattern forming method, and a manufacturing method of an electronic device are provided.
机译:根据本发明,提供了一种感光性树脂组合物,其包含通过酸的作用而相对于碱显影液的溶解速度降低的化合物(A),疏水性树脂(B)和树脂(C)。 )提供一种使用该组合物的膜,掩模坯料,图案形成方法和电子设备的制造方法。

著录项

  • 公开/公告号KR20180014012A

    专利类型

  • 公开/公告日2018-02-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 후지필름 가부시키가이샤;

    申请/专利号KR20177037188

  • 发明设计人 히라노 슈지;

    申请日2016-06-06

  • 分类号G03F7/004;C08F12/24;G03F1/66;G03F7/038;G03F7/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 12:40:52

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