首页> 外国专利> Metrological apparatus and a method of determining a surface characteristic or characteristics

Metrological apparatus and a method of determining a surface characteristic or characteristics

机译:计量设备和确定一个或多个表面特性的方法

摘要

A metrological apparatus has a surface data determiner to determine from measurement data a measured surface roughness data set (150) representing measured surface roughness and including any vibration induced measurement error and a harmonic model provider (120) providing a harmonic model representing vibration-induced surface characteristics of the surface as a set of harmonic components selected based on a surface form of the surface of the workpiece. A surface roughness determiner (140) uses the harmonic model and the measured surface roughness data to obtain a modified surface roughness data set in which vibration induced measurement error is suppressed.
机译:计量设备具有表面数据确定器,该表面数据确定器从测量数据中确定代表测量的表面粗糙度并包括任何振动引起的测量误差的测量的表面粗糙度数据集(150)和提供代表振动引起的表面的谐波模型的谐波模型提供器(120)表面特征作为一组谐波分量,这些谐波分量是根据工件表面的表面形式选择的。表面粗糙度确定器(140)使用谐波模型和所测量的表面粗糙度数据来获得修改后的表面粗糙度数据集,其中抑制了由振动引起的测量误差。

著录项

  • 公开/公告号GB2497098B

    专利类型

  • 公开/公告日2018-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAYLOR HOBSON LIMITED;

    申请/专利号GB20110020604

  • 发明设计人 DANIEL IAN MANSFIELD;

    申请日2011-11-30

  • 分类号G01B11/30;G01B9/02;G01B11/24;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-21 12:32:23

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号