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COMPOSITION DE MASQUE DUR, PROCÉDÉ DE FORMATION D'UN MOTIF UTILISANT LA COMPOSITION DE MASQUE DUR ET MASQUE DUR FORMÉ À PARTIR DE LA COMPOSITION DE MASQUE DUR

摘要

Provided are a hardmask composition and a method of forming a fine pattern using the hardmask composition, the hardmask composition including a solvent, a 2D carbon nanostructure (and/or a derivative thereof), and a 0D carbon nanostructure (and/or a derivative thereof).

著录项

  • 公开/公告号EP3343592B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020.05.13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 Samsung Electronics Co., Ltd.;

    申请/专利号EP17200667.8

  • 发明设计人

    申请日2017.11.08

  • 分类号

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 10:53:53

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