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在硅衬底上生长InGaP/GaAs/Ge三结太阳能电池的方法

摘要

本发明提供一种在硅衬底上生长InGaP/GaAs/Ge三结太阳能电池的方法,首先在硅衬底上外延生长组分渐变的GexSi1-x应力过渡层,然后在应力过渡层上形成应力完全弛豫的Ge薄膜层,接着在上述Ge/GexSi1-x/Si模板上,外延生长形成包括底部Ge子电池、中部GaAs子电池和顶部InGaP子电池的InGaP/GaAs/Ge三结高效太阳能电池。本发明用低价格的Si衬底取代了传统生长方法所必需使用的昂贵的Ge衬底,进行高效太阳能电池的生长;同时在Si衬底可以生长出更大面积、低缺陷密度的InGaP/GaAs/Ge三结高效太阳能电池,大大降低了InGaP/GaAs/Ge三结高效太阳能电池的生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN101859814B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201010189112.8

  • 申请日2010-06-02

  • 分类号H01L31/18(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 31/18 授权公告日:20120704 终止日期:20130602 申请日:20100602

    专利权的终止

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/18 申请日:20100602

    实质审查的生效

  • 2010-10-13

    公开

    公开

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