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混合光学与电子束光刻制造层级的共对准的高原子量结构及方法

摘要

一种方法,将集成电路芯片的制造层级的第一组特征对准电子束对准目标并使用电子束光刻来形成第一组特征,以及将集成电路芯片的相同制造层级的第二组特征对准光学对准目标并使用光学光刻来形成第二组特征,电子束对准目标包括形成于基板中的高原子量层,光学对准目标形成于基板中,光学对准目标本身对准电子束对准目标。还提供一种电子束对准目标的形成方法及结构。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-22

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 23/544 登记生效日:20171205 变更前: 变更后: 申请日:20071218

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-22

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 23/544 登记生效日:20171205 变更前: 变更后: 申请日:20071218

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-06-15

    授权

    授权

  • 2011-06-15

    授权

    授权

  • 2009-12-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-11-04

    公开

    公开

  • 2009-11-04

    公开

    公开

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