首页> 中国专利> 测量光学透明体的光学和物理厚度的方法

测量光学透明体的光学和物理厚度的方法

摘要

一种决定其折射率为未知的光学透明体的绝对物理厚度的方法,该方法包括如下步骤:使第一宽带光信号在与被测参量相关联的方向上透过一光学透明体;从所述光学透明体捕获第一对反射光信号,其中所述第一对反射光信号的第一光信号是从所述光学透明体的近的表面反射而得,而所述第一对反射光信号的第二光信号是从所述光学透明体的远的表面反射而得;使第二宽带光信号在与所述第一宽带光信号相反的方向上透过光学透明体;其中第一窗口(C)处的第一宽带光信号源和第二窗口(D)处的第二宽带光信号源之间的距离c通过在所述第一窗口(C)和所述第二窗口(D)之间插入已知厚度的光纤来校准;从所述光学透明体捕获第二对反射光信号,其中所述第二对反射光信号的第一光信号是从所述光学透明体的近的表面反射而得,而所述第二对反射光信号的第二光信号是从所述光学透明体的远的表面反射而得;以及通过利用光谱干涉计技术测量空腔谐振器的谐振波长来决定所述第一窗口和所述光学透明体之间的距离a和所述第二窗口和所述光学透明体之间的距离b,从而决定所述光学透明体的绝对物理厚度(d1)为d1=c-a-b。

著录项

  • 公开/公告号CN100549615C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-10-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国飞泰尔有限公司;

    申请/专利号CN200310113599.1

  • 发明设计人 加斯;加撒帕拉;

    申请日2003-11-14

  • 分类号G01B11/06(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人钟晶

  • 地址 美国佐治亚

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/06 授权公告日:20091014 终止日期:20131114 申请日:20031114

    专利权的终止

  • 2009-10-14

    授权

    授权

  • 2006-01-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-06-02

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号