首页> 中国专利> 利用离子阱质量分析器获得高准确度质谱的方法和利用离子阱质量分析器确定和/或减小质量分析中化学位移的方法

利用离子阱质量分析器获得高准确度质谱的方法和利用离子阱质量分析器确定和/或减小质量分析中化学位移的方法

摘要

一种利用离子阱质量分析器获得高准确质谱的方法包括:调整该分析器的工作参数,以启动质量选择共振射出模式下的反向质量扫描;以及,设定捕获场以俘获一个质荷比范围内的离子,该范围具有接近所关心离子质荷比的下限。一种确定化学位移的方法包括:调整该分析器的工作参数以启动正向和反向质量扫描;以及,校准从正向和反向质量扫描获得的质谱。

著录项

  • 公开/公告号CN100530511C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 岛津研究所(欧洲)有限公司;

    申请/专利号CN200480022393.0

  • 发明设计人 丁力;F·L·布兰恰;

    申请日2004-06-02

  • 分类号H01J49/42(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人程天正;梁永

  • 地址 英国曼彻斯特

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J 49/42 授权公告日:20090819 终止日期:20150602 申请日:20040602

    专利权的终止

  • 2009-08-19

    授权

    授权

  • 2006-11-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-09-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号