首页> 中国专利> 基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法

基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法

摘要

本发明涉及一种基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,属于卫星在轨运行期间的检校技术领域。本发明的方法能够明显提升影像的几何精度,整体效率高。本发明的方法中使用的均为数字信息或数据,采用自动匹配等算法实现几何标定处理,可实现全自动化几何检校,无需人工参与。

著录项

  • 公开/公告号CN111044076B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国资源卫星应用中心;

    申请/专利号CN201911269694.8

  • 发明设计人 龙小祥;李庆鹏;魏宝安;李晓进;

    申请日2019-12-11

  • 分类号G01C25/00(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人张丽娜

  • 地址 100094 北京市海淀区永丰产业基地丰贤东路5号

  • 入库时间 2022-08-23 13:12:24

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号