支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备

摘要

本发明涉及内存测试技术领域，公开了一种支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备，所述方法包括：关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。本发明能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。