支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备

摘要

本发明涉及内存测试技术领域，公开了一种支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备，所述方法包括：关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。本发明能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。

说明书

技术领域

本发明属于计算机技术领域，具体涉及一种支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备。

背景技术

DRAM(Dynamic Random Access Memory)，即动态随机存取存储器，最为常见的系统内存。DRAM存储器是计算机中重要的部件之一，它是与CPU进行沟通的桥梁。计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的，因此内存条的性能对计算机的影响非常大。如何对内存条进行测试，保证内存的正常运行，非常重要。

在KTI的DRAM存储器测试设备KT-4MG现有技术中，对于DRAM存储器的测试方法主要包括ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)和BTT(Behavior TestTechnology，行为测试技术)。现有的ATE的测试已经可以可以覆盖市场中所有DDR4颗粒类型，但BBT的测试仅支持x4、x8类型的颗粒，而无法对x16的颗粒类型进行测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备，用以解决现有的DRAM存储器测试方法无法对x16的颗粒类型进行测试的技术问题。

为了实现上述目的，本发明采用以下的技术方案：

一种支持DRAM x16颗粒的测试方法，所述方法包括：

关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；

设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；

访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

进一步的，所述关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射之前，还包括：

Double Rank Size,以使映射和计算出的内存容量是所述DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间。

进一步的，所述设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表包括：

初始化内存管理，进入内存页表属性设置，将Cache属性关闭；

建立内存页表；其中，所述内存页表包括内核内存页表和/或用户进程内存页表。

进一步的，所述访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息包括；

利用BTT测试软件访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间；

向所述DRAM x16颗粒发送测试指令；

检测所述DRAM x16颗粒，获取所述DRAM x16颗粒的错误信息。

本发明还提供一种支持DRAM x16颗粒的存储器测试装置，所述装置包括：

地址映射单元，用于关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；

页表建立单元，用于设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；

内存错误获取单元，用于访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

进一步的，所述装置还包括：

扩容单元，用于Double Rank Size,以使映射和计算出的内存容量是所述DRAMx16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间。

进一步的，所述页表建立单元包括：

Cache属性关闭模块，用于初始化内存管理，进入内存页表属性设置，将Cache属性关闭；

页表建立模块，用于建立内存页表；其中，所述内存页表包括内核内存页表和/或用户进程内存页表。

进一步的，所述内存错误获取单元包括：

地址空间访问模块，用于利用BTT测试软件访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间；

测试指令发送模块，用于向所述DRAM x16颗粒发送测试指令；

错误信息获取模块，用于检测所述DRAM x16颗粒，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

本发明还提供一种DRAM存储器的测试设备，包括用于测试控制的测试主机和用于提供DRAM存储器测试接口的测试接口板；所述测试主机中写入执行如上述的一种支持DRAMx16颗粒的存储器的测试方法的程序。

进一步的，所述测试设备的测试方式包括全自动测试和手动测试；其中，所述DRAM存储器速度可达到3.2GBits/sec。

本发明的有益效果为：首先通过在建立地址映射和计算内存容量前Double RankSize，以使映射和计算出来的内存容量是DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间；其次在做地址映射的时候关闭Bank XOR Enable，以避免在地址转换对bank计算的影响；然后在固件中建立内存页表的时候，将Cache属性关闭；最后对DRAM x16颗粒进行检测，获取其错误信息。该方法能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。

附图说明

图1是本发明一种支持DRAM x16颗粒的测试方法的流程示意图；

图2是本发明一种支持DRAM x16颗粒的测试装置的模块示意图。

具体实施方式

为使本说明书实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本说明书一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本说明保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

实施例一

在本发明实施例中，首先需要说明的是，由于DRAM x16颗粒Bank Group的物理连接线只有一根，而DRAMx4/x8颗粒Bank Group的物理连接线是2根，因此，将DRAM x16颗粒看作DRAMx8颗粒来进行测试时，在访问DRAM x16颗粒的时候必须避免访问Bank Group高位的那根物理连线，就可以避免非法访问无效的地址空间。具体的实现方式如下：

请参见图1，一种支持DRAM x16颗粒的存储器测试方法，所述方法包括：

步骤S1，Double Rank Size,以使映射和计算出的内存容量是所述DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间。

在本发明实施例中，在对所述DRAM x16颗粒进行测试之前，需要用一条DRAM x8颗粒内存条作为Base Module来引导启动测试并进入测试程序。

步骤S2，关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAMx16颗粒建立地址映射；其中，关闭Bank XOR Enable的目的是为了出去地址转换对bank计算的影响。

步骤S3，设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；

在本发明实施例中，优选的，所述设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表包括：

A、初始化内存管理，进入内存页表属性设置，将Cache属性关闭；

B、建立内存页表；其中，所述内存页表包括内核内存页表和/或用户进程内存页表。

步骤S4，访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

在本发明实施例中，优选的，所述访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息包括；

A、利用BTT测试软件访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间；

B、向所述所述DRAM x16颗粒发送测试指令；

C、检测所述DRAM x16颗粒，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

在本发明实施例中，所述BTT测试软件包括BTT测试架构和BTT测试算法，BTT测试算法在BTT测试架构中作为独立的测试单元工作，其工作目的是为了把有问题的内存错误找出来；BTT测试架构的工作内容主要是从启动x86 CPU多核开始，初始化CPU，初始化中断机制，初始化内存控制器，初始化内存管理等等，这里为DRAM x16颗粒增加的专门的软件架构在测试的内存管理里面，在传给每个BTT测试算法的测试范围的时候，专门增加了一层内存管理控制，保证传给BTT测试算法的测试范围在有效的地址空间里面，从而避免了BTT测试算法访问到非法的地址空间。

本发明的有益效果为：首先通过在建立地址映射和计算内存容量前Double RankSize，以使映射和计算出来的内存容量是DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间；其次在做地址映射的时候关闭Bank XOR Enable，以避免在地址转换对bank计算的影响；然后在固件中建立内存页表的时候，将Cache属性关闭；最后对DRAM x16颗粒进行检测，获取其错误信息。该方法能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。

实施例二

在本发明实施例中，首先需要说明的是，由于DRAM x16颗粒Bank Group的物理连接线只有一根，而DRAMx4/x8颗粒Bank Group的物理连接线是2根，因此，将DRAM x16颗粒看作DRAMx8颗粒来进行测试时，在访问DRAM x16颗粒的时候必须避免访问Bank Group高位的那根物理连线，就可以避免非法访问无效的地址空间。具体的实现方式如下：

请参见图2，本发明还提供一种支持DRAM x16颗粒的测试装置100，所述装置100包括：

扩容单元1，用于Double Rank Size,以使映射和计算出的内存容量是所述DRAMx16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间。

在本发明实施例中，在对所述DRAM x16颗粒进行测试之前，需要用一条DRAM x8颗粒内存条作为Base Module来引导启动测试并进入测试程序。

地址映射单元2，用于关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；其中，关闭Bank XOR Enable的目的是为了出去地址转换对bank计算的影响。

页表建立单元3，用于设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；

在本发明实施例中，所述页表建立单元3包括：

Cache属性关闭模块31，用于初始化内存管理，进入内存页表属性设置，将Cache属性关闭；

页表建立模块32，用于建立内存页表；其中，所述内存页表包括内核内存页表和/或用户进程内存页表。

内存错误获取单元4，用于访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

进一步的，所述内存错误获取单元3包括：

地址空间访问模块41，用于利用BTT测试软件访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间；

测试指令发送模块42，用于向所述所述DRAM x16颗粒发送测试指令；

错误信息获取模块43，用于检测所述DRAM x16颗粒，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

在本发明实施例中，所述BTT测试软件包括BTT测试架构和BTT测试算法，BTT测试算法在BTT测试架构中作为独立的测试单元工作，其工作目的是为了把有问题的内存错误找出来；BTT测试架构的工作内容主要是从启动x86 CPU多核开始，初始化CPU，初始化中断机制，初始化内存控制器，初始化内存管理等等，这里为DRAM x16颗粒增加的专门的软件架构在测试的内存管理里面，在传给每个BTT测试算法的测试范围的时候，专门增加了一层内存管理控制，保证传给BTT测试算法的测试范围在有效的地址空间里面，从而避免了BTT测试算法访问到非法的地址空间。

本发明的有益效果为：首先通过扩容单元1在建立地址映射和计算内存容量前Double Rank Size，以使映射和计算出来的内存容量是DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间；其次通过地址映射单元2在做地址映射的时候关闭Bank XOR Enable，以避免在地址转换对bank计算的影响；然后在固件中建立内存页表的时候，将Cache属性关闭；最后通过页表建立单元3对DRAM x16颗粒进行检测，获取其错误信息。该方法能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。

实施例三

本发明还提供一种DRAM存储器的测试设备，包括用于测试控制的测试主机和用于提供DRAM存储器测试接口的测试接口板；所述测试主机中写入执行如上述的一种支持DRAMx16颗粒的测试方法的程序。

在本发明实施例中，所述测试设备的测试方式包括全自动测试和手动测试；其中，所述DRAM存储器速度可达到3.2GBits/sec。

在本发明实施例中，所述支持DRAM x16颗粒的测试方法可以通过包括存储器和处理器和网络接口的计算机设备进运行；该计算机设备可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。其中，存储器可以包括非易失性存储介质和内存储器。该处理器用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备的运行。该网络接口用于与其它设备进行网络通信。

应当理解，在本申请实施例中，处理器可以是中央处理单元，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。

因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的支持DRAM x16颗粒的测试方法。所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，在不支持X16类型颗粒访问的任何主板或仪器上以类似的手段进行X16的颗粒或模组的测试，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。