公开/公告号CN110365033B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-21
原文格式PDF
申请/专利号CN201910571609.7
申请日2019-06-28
分类号H02J3/32(20060101);H02J3/38(20060101);
代理机构32224 南京纵横知识产权代理有限公司;
代理人张倩倩
地址 211103 江苏省南京市鼓楼区凤凰西街243号
入库时间 2022-08-23 12:30:47
机译: 调试系统,调试方法,调试控制方法和调试控制程序
机译: 调试系统,调试方法,调试控制方法和调试控制程序
机译: 调试系统,半导体集成电路和半导体集成电路的调试方式,是一种具有分析装置的调试系统,该分析装置对成为调试基板和目标的半导体集成电路的动作进行分析。