公开/公告号CN109142253B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-31
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院大连化学物理研究所;
申请/专利号CN201811218459.3
申请日2018-10-19
分类号G01N21/31(20060101);G01N21/33(20060101);G01N21/64(20060101);G01N27/26(20060101);
代理机构21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司;
代理人何丽英
地址 116023 辽宁省大连市沙河口区中山路457号
入库时间 2022-08-23 12:24:22
机译: 背光电子光谱测量装置,背光电子谱测量基板和背光电子光谱测量方法
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 用于测量超短发光脉冲的光谱相或组合的光谱和空间相的方法和装置。