一种电介质击穿测试电路及其测试方法

摘要

本发明公开了一种电介质击穿测试电路及其测试方法，所述电介质击穿测试电路包括至少两个串联的测试电路，所述测试电路包括：电阻；二极管，其正极电性连接于所述电阻的一端；电熔丝，其一端电性连接于所述二极管的负极；测试点，其一端电性连接于所述电熔丝的另一端，所述测试点的另一端电性连接于所述电阻的另一端；其中，每个所述测试电路的一端为所述电阻和所述测试点的连接点，另一端为所述二极管和所述电熔丝的连接点。通过本发明提供的一种电介质击穿测试电路，可提高获得特征寿命的效率。