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公开/公告号CN109884516B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-12
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;
申请/专利号CN201910086037.3
发明设计人 闫珍珍;刘海南;郭燕萍;许婷;卜建辉;罗家俊;韩郑生;
申请日2019-01-29
分类号G01R31/317(20060101);G01R31/3177(20060101);
代理机构11302 北京华沛德权律师事务所;
代理人房德权
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号
入库时间 2022-08-23 11:28:47
机译: 验证用于半导体集成电路的信号生成装置,验证用于具有该集成电路的半导体集成电路的装置,验证用于集成电路的半导体集成电路的验证信号生成方法,以及用于验证的方法
机译: 半导体集成电路的验证装置,半导体集成电路的验证方法以及存储半导体集成电路的验证程序的计算机可读介质
机译: 半导体集成电路的验证装置,半导体集成电路的验证方法以及半导体集成电路的计算机可读介质存储验证程序
机译:集成设计验证:数字集成电路的仿真与形式验证相结合
机译:使用卷积神经网络进行打印电路板集成电路组件的字符验证
机译:基于电路仿真的多节点电荷收集触发器鲁棒性验证
机译:探索用于PLC系统验证和验证的集成电路验证方法
机译:用于集成电路设计的4H-SiC低压MOSFET的建模和验证。
机译:集成电路概率选择装置。
机译:16.6具有同步数字电路的CmOs混合信号集成电路中降低基板噪声的方法和实验验证
机译:超高速集成电路(VHIsC)硬件描述语言(VHDL)交互验证炼金术(VIVa)。用于VHDL相关工具的半自动,高保真验证的技术和软件。