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一种基于气态源分子束外延的大失配InGaAs材料生长方法

摘要

本发明公开了一种基于气态源分子束外延的大失配InGaAs材料生长方法,在失配衬底上覆盖多层石墨烯,放入气态源分子束外延系统生长室中升至高温,将砷烷经过高温裂解后通至生长室维持30分钟,然后降温至生长所需的温度,打开铟和镓束源炉快门,生长InGaAs材料。此生长方法利用了气态源分子束外延的特点,可以不受InGaAs材料与衬底晶格失配的影响,突破衬底的限制。本发明还可以推广到其他的III‑V族砷化物和磷化物失配材料的生长,具有很好的通用性。

著录项

  • 公开/公告号CN110205673B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;

    申请/专利号CN201910411829.3

  • 申请日2019-05-17

  • 分类号H01L21/02(20060101);C30B25/18(20060101);C30B25/02(20060101);C30B29/40(20060101);

  • 代理机构31311 上海沪慧律师事务所;

  • 代理人郭英

  • 地址 200083 上海市虹口区玉田路500号

  • 入库时间 2022-08-23 11:27:36

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