法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-05-13
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/027 授权公告日:20080917 终止日期:20140324 申请日:20030324
专利权的终止
2008-09-17
授权
授权
2004-04-07
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-01-28
公开
公开
机译: 当指定从转录为光掩模的图形修正方式的半导体晶片的实际转印图案的图案尺寸减去上述半导体晶片的设计图案尺寸的值时,记录该图形修正程序和该程序的记录介质。
机译: 具有图形校正阶段的掩模数据校正装置产生用于制造过程的转印掩模图案形状,以防止在制造过程中预期的故障
机译: 校正半导体电路的设计图形的方法,使用正确的设计图形数据制造的光电掩模,用于检查光电掩模的方法和用于检验光电掩模的生成图形数据的方法