首页> 中国专利> 基于衬底偏置效应的多位存算一体SRAM及实现方法

基于衬底偏置效应的多位存算一体SRAM及实现方法

摘要

本发明属于计算机架构领域,涉及一种基于衬底偏置效应的多位存算一体SRAM及实现方法。本发明是利用金属‑氧化物‑半导体场效应晶体管(MOSFET)衬底偏置效应通过调整MOSFET衬底电压以此来调整阈值电压的特性,使单个MOSFET相同栅压下,可以输出不同大小的源漏电流。在包括但不限于6T SRAM、4T2R SRAM等1bit存储模块结构的基础上,增加读取模块用于数据读取。读取模块中有包括但不限于单管乘法器、差分对乘法器等运算单元结构,通过调节读取模块中的运算单元,使其输出不同大小的电流,根据读取到的电流大小与基准电流的比值,赋予每个存储单元存储权重,以此来在一个存储单元内存储多位数据,在存储的同时可以进行包括但不限于点积等运算功能。

著录项

  • 公开/公告号CN110277121B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910560843.X

  • 申请日2019-06-26

  • 分类号G11C11/419(20060101);G11C11/412(20060101);G06F15/78(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙一峰

  • 地址 611731 四川省成都市高新西区西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:22

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号