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公开/公告号CN109898138B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-29
原文格式PDF
申请/专利权人 西安交通大学;
申请/专利号CN201910150084.X
发明设计人 牛刚;代立言;任巍;赵金燕;王延昆;武和平;刘逸为;王玲艳;史鹏;
申请日2019-02-28
分类号C30B29/32(20060101);C30B23/06(20060101);
代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;
代理人徐文权
地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号
入库时间 2022-08-23 11:15:28
机译: 在非晶和多晶衬底上薄膜cSi的低温异质外延生长方法以及在非晶,多晶和晶体衬底上的c-Si器件的低温异质外延生长方法
机译: 表面改性单晶SiC衬底,具有外延生长层的单晶SiC衬底,半导体芯片,用于物种衬底的单晶SiC生长和单晶生长层多晶SiC衬底的制造方法
机译: 通过在衬底上外延生长来制造氮化物单晶的方法,该方法防止衬底边缘上的生长
机译:Ge(0 0 1)衬底上外延Dy-锗化物薄膜上Dy_2O_3薄膜的外延生长
机译:通过反应热化学气相沉积法在Si(001)衬底上外延生长富锗硅锗薄膜
机译:通过超高真空化学气相沉积直接在硅衬底上外延生长的富锗硅锗薄膜
机译:浅沟槽隔离在硅晶圆上锗的选择性外延生长:Ge虚拟衬底的一种方法
机译:在单晶碳化硅衬底上外延生长的六价铁酸钡薄膜的生长和高速率反应离子刻蚀。
机译:MgO(001)衬底上的薄膜PdFe / VN和VN / PdFe双层薄膜的外延生长和超导性能
机译:Si和Ge(100)衬底上通过低温RF-PECVD外延生长的弛豫薄膜锗层的结构特性
机译:LaalO(sub 3)衬底上外延生长211 Y(sub 2)O(sub 3):Eu薄膜的结构与发光性质的关系