基于现场可编程门阵列芯片的155M比特误码分析测试仪

摘要

本发明公开了一种基于现场可编程门阵列芯片的155M比特误码分析测试仪，涉及光通信仪器仪表测试领域中一种误码分析测试仪；本发明通过现场可编程门阵列来实现伪随机码序列的发送、接收和误码检测计数，从而方便、快速、准确地进行误码分析测试。由被测试设备(A)、时钟数据提取恢复芯片(B)、时钟合成芯片(C)、现场可编程门阵列芯片(D)、单片机(E)、液晶显示屏、误码指示灯(F)、薄膜键盘(G)、串口通信接口(H)组成；现场可编程门阵列芯片主要包括发送模块、接收模块、计数模块。本发明结构紧凑、便携方便、稳定性好、操作简便，适合于通信系统的性能测试，也方便在工程现场测试。