首页> 中国专利> 质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法

质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法

摘要

公开了质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法。质谱仪包括离子源、离子阱、离子检测器和气压调节系统,其中,在运行质谱仪期间,气压调节系统经配置在离子源、离子阱和离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压,并且离子检测器经配置根据由离子源生成的离子的质荷比检测离子。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-18

    授权

    授权

  • 2018-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/00 申请日:20121231

    实质审查的生效

  • 2018-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 49/00 申请日:20121231

    实质审查的生效

  • 2018-04-20

    公开

    公开

  • 2018-04-20

    公开

    公开

  • 2018-04-20

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号