公开/公告号CN106814305B
专利类型发明专利
公开/公告日2019-06-04
原文格式PDF
申请/专利权人 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所;
申请/专利号CN201611205402.0
申请日2016-12-23
分类号G01R31/28(20060101);G01R31/3167(20060101);H03M1/10(20060101);
代理机构11009 中国航天科技专利中心;
代理人臧春喜
地址 100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号
入库时间 2022-08-23 10:33:58
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-06-04
授权
授权
2017-07-04
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20161223
实质审查的生效
2017-07-04
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20161223
实质审查的生效
2017-06-09
公开
公开
2017-06-09
公开
公开
2017-06-09
公开
公开
查看全部
机译: 基于通用测试结构的SRAM片上参数测试模块以及操作和测试方法
机译: 基于通用测试结构的SRAM片上参数测试模块以及操作和测试方法
机译: 基于片上系统的嵌入式内核测试方法和结构