一种光伏组件封装胶膜抗PID性能加速测试方法

摘要

本发明公开了一种光伏组件封装胶膜抗PID性能加速测试方法，该方法首先用封装胶膜封装制作小型太阳能光伏组件；将组件正面遮光后，采用恒流源连接组件正极和负极，在组件内通恒定电流，记录恒流源显示的电压值；然后在组件正面玻璃面贴上导电金属箔，在高温、高湿度和施加偏置电压条件下，对组件进行1h～96h PID测试后，再用恒流源往组件内通恒定电流，记录恒流源显示的电压值；最后得到电压下降比例。本发明通过在小组件内通恒定电流测试电压下降的方式判断封装胶膜的抗PID性能，简化了组件制作、PID前后测试步骤及对老化、测试设备的要求，节约了测试成本和时间，对优化抗PID封装胶膜配方和生产工艺具有指导意义。