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一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长结构及方法

摘要

本发明提出一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构,所述外延结构依次包括蓝宝石衬底、低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层,所述外延结构的特征在于,所述多量子阱层中InGaN层依次包括InN层和InGaN层,所述InN层是在InGaN量子阱初期周期性地通入/停止TMIn进入反应室生长而成。所述外延结构有效提高InGaN量子阱初期In组分,使得InGaN量子阱中In组分更加均匀,界面更加陡峭,从而提高LED波长均匀性和发光效率。

著录项

  • 公开/公告号CN104821352B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海世湖材料科技有限公司;

    申请/专利号CN201510249514.5

  • 发明设计人 徐丽萍;

    申请日2015-05-14

  • 分类号H01L33/00(20100101);H01L33/06(20100101);H01L33/32(20100101);H01L21/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201306 上海市浦东新区临港海洋高新技术产业化基地A0201街坊1110号

  • 入库时间 2022-08-23 10:17:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L33/00 授权公告日:20180925 终止日期:20190514 申请日:20150514

    专利权的终止

  • 2018-09-25

    授权

    授权

  • 2018-09-25

    授权

    授权

  • 2015-09-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/00 申请日:20150514

    实质审查的生效

  • 2015-09-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/00 申请日:20150514

    实质审查的生效

  • 2015-09-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 33/00 申请日:20150514

    实质审查的生效

  • 2015-08-05

    公开

    公开

  • 2015-08-05

    公开

    公开

  • 2015-08-05

    公开

    公开

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