一种正常工作模式下芯片调试方法及调试电路

摘要

本发明公开了一种正常工作模式下芯片调试方法，是在芯片引脚功能定义时，采用引脚复用技术，将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后输出到芯片引脚上，即通过多路选择器控制引脚当前的输出信号，从而在正常工作调测模式时可以控制多路选择器将内部信号作为输出值输出到引脚上。本发明还公开了一种正常工作模式下芯片调试电路，本发明能够使芯片在正常工作模式下开启调测功能，在芯片正常工作时能够获得预定测试的组合逻辑电路（端口或内部）的信号状态，定位故障，确认问题。