法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-09-15
授权
授权
2015-03-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20130408
实质审查的生效
2015-03-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20130408
实质审查的生效
2013-10-23
公开
公开
2013-10-23
公开
公开
机译: 硅薄膜的测量方法,硅薄膜中的缺陷的检测方法以及硅薄膜缺陷检测装置
机译: 硅薄膜测量方法,硅薄膜缺陷检测方法和硅薄膜缺陷检测器
机译: 缺陷检测方法,缺陷检测方法,缺陷检测设备,缺陷检测设备,缺陷检测程序和用于记录程序的记录介质