基于测量参考点阵的大尺寸精密几何尺寸测量系统

摘要

本发明涉及几何测量技术领域，特别是一种基于测量参考点阵的低成本大尺寸精密几何尺寸测量系统；包括测量参考点阵、空间坐标测量设备以及测量系统计算机；可移动的空间坐标测量设备通过测量其周边的三个或以上不在同一直线上的参考点确定了测量设备在测量空间的相对位置，进而能把空间坐标测量设备测量被测物体时获得的所有测量数据转换到统一的测量空间工作坐标系下，大幅扩大可移动的空间坐标测量设备的测量范围，同时避免了传统蛙跳等测量方法带来的误差累积，实现高效、高精度大尺寸测量，另外，本发明可大幅减少大型测量设备的固定资产投资，提高了测量可靠性，维护和使用成本大幅降低。