首页> 中国专利> 微粒分级测定装置、粒子浓度分布均匀的试样制作装置、以及纳米粒子膜成膜装置

微粒分级测定装置、粒子浓度分布均匀的试样制作装置、以及纳米粒子膜成膜装置

摘要

在能够使流经内部的试样气体形成层流的平行的流路的入口侧配置有带电器,带电器包含放电电极,使试样气体中的微粒带电。在该流路的相对的一对面中的一个面上,在带电器的下游,将1个或多个吸引侧电极沿着流路方向配置于离流路入口不同距离的位置上。在该流路的相对的一对面中的另一面上配置有分级电极。分级电极与吸引侧电极相对配置,在分级电极与吸引侧电极之间,发生将流经流路的试样气体中的带电微粒吸附于吸引侧电极一侧的电场。

著录项

  • 公开/公告号CN104380078B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN201380029887.0

  • 发明设计人 奥田浩史;

    申请日2013-06-04

  • 分类号

  • 代理机构上海市华诚律师事务所;

  • 代理人肖华

  • 地址 日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地

  • 入库时间 2022-08-23 09:49:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N15/02 授权公告日:20161130 终止日期:20190604 申请日:20130604

    专利权的终止

  • 2016-11-30

    授权

    授权

  • 2016-11-30

    授权

    授权

  • 2015-03-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20130604

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20130604

    实质审查的生效

  • 2015-02-25

    公开

    公开

  • 2015-02-25

    公开

    公开

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